空白边框
 
文章正文
三星率先开发出12层3D硅穿孔堆叠:单芯片容量提至24GB
作者:    发布于:2019-10-08 21:27:44    文字:【】【】【
摘要:三星率先开发出12层3D硅穿孔堆叠:单芯片容量提至24GB

近日,三星电子宣布率先在业内开发出12层3D-TSV(硅穿孔)技术。

随着集成电路规模的扩大,如何在尽可能小的面积内塞入更多晶体管成为挑战,其中多芯片堆叠封装被认为是希望之星。三星称,他们得以将12片DRAM芯片通过60000个TSV孔连接,每一层的厚度仅有头发丝的1/20。

总的封装厚度为720μm,与当前8层堆叠的HBM2存储芯片相同,体现了极大的技术进步。

这意味着,客户不需要改动内部设计就可以获得更大容量的芯片。同时,3D堆叠也有助于缩短数据传输的时间。

三星透露,基于12层3D TSV技术的HBM存储芯片将很快量产,单片容量从目前的8GB来到24GB。

联系我们


承办单位:上海巴郎展览服务有限公司
地址:上海市嘉定区嘉行公路3188号8幢480室
电话:136 1178 7248
E-mail: zhcdexpo@126.com



北京国家会议中心

136 1178 7248

zhenghan@hxmexpo.com

Copyright © 2012-2019 . 版权所有 沪ICP备17052448号-7